Dispens Prosesi İnceleme Sistemi

Koh Young'dan patentli teknolojilere dayalı kalınlık ölçüm çözümü ile devrim yaratan gerçek 3D hat içi Dispens/Dağıtım Prosesi Denetimi (DPI)...

Çoğu optik sistem, yüzeyde varlık olup olmadığını incelemek için UV ışığı kullanır ve belirli bir noktadaki malzeme kalınlığını ölçmek için göstergeler kullanır, bu da gereken doğruluğu ve tekrarlanabilirliği sağlamaz. Saydam malzemeleri incelemenin, yalnızca üç boyutlu şekilleri ölçen geleneksel lazer-konfokal veya elektron mikroskobu sistemleri için zorlu olduğu kanıtlanmıştır.

Koh Young'ın devrim niteliğindeki Neptune C+ ürünü, bu zorluklara nihai çözümü sağlar.